在攻克納米級薄膜材料檢測的世界難題上,我國科技人員再出碩果,“功能薄膜材料物理性能檢測技術(shù)湖北省工程實驗室”日前在武漢成立。
隨著新材料的發(fā)展與應(yīng)用,納米級薄膜材料在許多領(lǐng)域中被廣泛使用,國際上卻沒有可直接檢測薄膜熱特性的設(shè)備。1納米僅為1根頭發(fā)絲直徑的六萬分之一,如何檢測薄膜的熱特性成為國際難題,過去需要先把薄膜沉積得很厚,再把待測薄膜材料刮下來,形成一定質(zhì)量的粉末后,才能進行破壞性檢測。
經(jīng)多年技術(shù)攻堅,華中科技大學(xué)“長江學(xué)者”繆向水教授團隊研發(fā)出我國首臺光功率熱分析儀,檢測薄膜厚度可至5納米。據(jù)介紹,光功率熱分析儀是將激光照射到納米薄膜材料表面上,通過反射光功率檢測薄膜的相變溫度點和熱膨脹系數(shù)。
作為國內(nèi)首家功能薄膜材料物理性能檢測技術(shù)研究基地,本次組建省級工程實驗室后,將下設(shè)薄膜材料熱分析、薄膜材料樣品制備與加工、薄膜材料電磁分析、薄膜材料力學(xué)分析、薄膜材料光學(xué)分析5個垂直研究實驗室。
清華大學(xué)教授、國家重點研發(fā)計劃專家組組長潘峰表示,薄膜材料是對全球科技進步的顛覆性技術(shù),隨著薄膜技術(shù)越做越薄,需要顛覆性的測試設(shè)備,科技部已設(shè)立材料基因組重大研發(fā)專項,其中一個重要任務(wù)就是攻克高通量的表征檢測技術(shù),湖北可依托薄膜檢測研發(fā)的領(lǐng)先優(yōu)勢,作出更大的科學(xué)貢獻。(文章來源于網(wǎng)絡(luò))